BERNARDI, PAOLO

BERNARDI, PAOLO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

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Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems. In corso di stampa Francesco AngionePaolo BernardiGabriele FilipponiClaudia TempestaMatteo Sonza Reorda + -
An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, Alessandro; Piumatti, Davide; Quer, Stefano; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno International Test Conference. In corso di stampa Francesco AngionePaolo BernardiAndrea CalabreseLorenzo CardoneDavide PiumattiStefano Quer + -
A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip / Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, Appello; Giuseppe, Garozzo; Vincenzo, Tancorre. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno Latin American Test Symposium. In corso di stampa Iaria GiusyFrancesco AngionePaolo BernardiMatteo Sonza Reorda + -
Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing / Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; Gielen, G.; Gomez, J.; Grosso, M.; Guerriero, A. M.; Guglielminetti, I.; Hamdioui, S.; Insinga, G.; Mautone, N.; Mirabella, N.; Sartoni, S.; Sonza Reorda, M.; Ullmann, R.; Vanhooren, R.; Xama, N.; Wu, L.. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). In corso di stampa P. BernardiR. CantoroA. FloridiaM. GrossoS. HamdiouiG. InsingaN. MirabellaS. SartoniM. Sonza ReordaL. Wu + _IOLTS2022__Special_Session__Recent_Trends_and_Perspectives_on_Defect_Oriented_Testing.pdf
An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (2022), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810396]. 1-gen-2022 Francesco ANGIONEPaolo BERNARDIGabriele FILIPPONIMatteo SONZA REORDA + An_Optimized_Burn-In_Stress_Flow_targeting_Interconnections_logic_to_Embedded_Memories_in_Automotive_Systems-on-Chip.pdf
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf
A novel SEU injection setup for Automotive SoC / Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 623-626. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE International Symposium on Industrial Electronics tenutosi a Anchorage, AK (USA) nel 01-03 June 2022 [10.1109/ISIE51582.2022.9831533]. 1-gen-2022 G. IariaT. FoscaleP. BernardiL. PresicceM. Sonza Reorda + A_novel_SEU_injection_setup_for_Automotive_SoC.pdf
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 01 July 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 2022_ETS_SpecialSession.pdfTest_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2022), pp. 1-14. [10.1109/TC.2022.3199994] 1-gen-2022 Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + -
Optimized diagnostic strategy for embedded memories of Automotive Systems-on-Chip / Bernardi, Paolo; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; Cantoro, Riccardo; Beer, Peter; Mautone, Nellina; Scaramuzza, Pierre; Carnevale, Giambattista; Coppetta, Matteo; Ullmann, Rudolf. - (2022), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810445]. 1-gen-2022 Paolo BERNARDIGiorgio INSINGAGiovanni PAGANINIRiccardo CANTORO + Optimized_diagnostic_strategy_for_embedded_memories_of_Automotive_Systems-on-Chip.pdf
Parallel Multithread Analysis of Extremely Large Simulation Traces / Appello, D.; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Pollaccia, G.; Quer, Stefano; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE ACCESS. - ISSN 2169-3536. - ELETTRONICO. - 10:(2022), pp. 56440-56457. [10.1109/ACCESS.2022.3177613] 1-gen-2022 Paolo BernardiAndrea CalabreseStefano Quer + ieeeAccess.pdf
System-Level Test: State of the Art and Challenges / Appello, D.; Chen, H. H.; Sauer, M.; Polian, I.; Bernardi, P.; Reorda, M. S.. - (2021), pp. 1-7. ((Intervento presentato al convegno 27th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2021 nel 2021 [10.1109/IOLTS52814.2021.9486708]. 1-gen-2021 Bernardi P.Reorda M. S. + System-Level_Test_State_of_the_Art_and_Challenges.pdf
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Appello, D.; Bernardi, P.; Calabrese, A.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Quer, S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2021), pp. 69-74. ((Intervento presentato al convegno 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2021 tenutosi a aut nel 2021 [10.1109/DDECS52668.2021.9417048]. 1-gen-2021 Bernardi P.Calabrese A.Littardi S.Quer S. + 09417048.pdf
Industrial best practice: cases of study by automotive chip- makers / Abbati, L. Degli; Ullmann, R.; Paganini, G.; Coppetta, M.; Zaia, L.; Huard, V.; Montfort, O.; Cantoro, R.; Insinga, G.; Venini, F.; Calao, P.; Bernardi, P.. - (2021), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) [10.1109/DFT52944.2021.9568350]. 1-gen-2021 Paganini, G.Cantoro, R.Insinga, G.Venini, F.Calao, P.Bernardi, P. + Industrial_best_practice_cases_of_study_by_automotive_chip-_makers.pdf
Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation / Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Pollaccia, Giorgio; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) nel 28-30 June 2021 [10.1109/DTIS53253.2021.9505067]. 1-gen-2021 Ruggeri, WalterBernardi, PaoloLittardi, StefanoReorda, Matteo Sonza + innovative_methods_for_burn-in_related_stress_metrics_computation.pdfInnovative_methods_for_Burn-In_related_Stress_Metrics_Computation.pdf
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno International Test Conference 2020 (ITC2020) nel 3-5 November 2020. 1-gen-2020 A. CalabreseP. BernardiS. LittardiS. Quer poster.pdf
An efficient strategy for the development of software test libraries for an automotive microcontroller family / Piumatti, D.; Sanchez, E.; Bernardi, P.; Martorana, R.; Pernice, M. A.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - ELETTRONICO. - 115:(2020), p. 113962. [10.1016/j.microrel.2020.113962] 1-gen-2020 Piumatti, D.Sanchez, E.Bernardi, P. + 1-s2.0-S0026271420307939-main-post print.pdfVersione editoriale pre print.pdf
Exploring the Mysteries of System-Level Test / Polian, I.; Anders, J.; Becker, S.; Bernardi, P.; Chakrabarty, K.; Elhamawy, N.; Sauer, M.; Singh, A.; Reorda, M. S.; Wagner, S.. - (2020), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 29th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2020 tenutosi a mys nel 2020 [10.1109/ATS49688.2020.9301557]. 1-gen-2020 Bernardi P.Reorda M. S. + 09301557.pdf
Facilitating Fault-Simulation Comprehension through a Fault-Lists Analysis Tool / Bernardi, P.; Piumatti, D.; Sanchez, E.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 77-80. ((Intervento presentato al convegno 10th IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems 2019 (LASCAS19) tenutosi a Armenia, Quindío, Colombia nel February 24 - 27, 2019 [10.1109/LASCAS.2019.8667573]. 1-gen-2019 Bernardi, P.Piumatti, D.Sanchez, E. -
Non-Intrusive Self-Test Library for Automotive Critical Applications: Constraints and Solutions / Bernardi, P.; Cantoro, R.; Floridia, A.; Piumatti, D.; Pogonea, C.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; De Luca, S.; Sansonetti, A.. - IEEE DATE 2019:(2019), pp. 920-923. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe; DATE 2019 [10.23919/DATE.2019.8714780]. 1-gen-2019 Bernardi, P.Cantoro, R.Floridia, A.Piumatti, D.Ruospo, A.Sanchez, E. + -