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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Industrial best practice: cases of study by automotive chip- makers / Abbati, L. Degli; Ullmann, R.; Paganini, G.; Coppetta, M.; Zaia, L.; Huard, V.; Montfort, O.; Cantoro, R.; Insinga, G.; Venini, F.; Calao, P.; Bernardi, P.. - (2021), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) nel 06-08 October 2021) [10.1109/DFT52944.2021.9568350]. | 1-gen-2021 | Paganini, G.Cantoro, R.Insinga, G.Venini, F.Calao, P.Bernardi, P. + | Industrial_best_practice_cases_of_study_by_automotive_chip-_makers.pdf |
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