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Faster-than-at-speed execution of functional programs: an experimental analysis / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Natale, Giorgio Di; Guerriero, Andrea; Venini, Federico. - (2016). ((Intervento presentato al convegno IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC). 1-gen-2016 BERNARDI, PAOLOGUERRIERO, ANDREAVENINI, FEDERICO + -
A Comprehensive Methodology for Stress Procedures Evaluation and Comparison for Burn-In of Automotive SoC / Bernardi, Paolo; Appello, Davide; Giacopelli, Giampaolo; Motta, Alessandro; Pagani, Alberto; Pollaccia, Giorgio; Rabbi, Christian; Restifo, Marco; Ruberg, Priit; Sanchez, Ernesto; Villa, Claudio Maria; Venini, Federico. - (2017). ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2017). 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLORESTIFO, MARCOSanchez, ErnestoVENINI, FEDERICO + -
A DMA and CACHE-based stress schema for burn-in of automotive microcontroller / Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Gianotto, L.; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Venini, Federico; Appello, D.. - STAMPA. - (2017), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) tenutosi a Bogota (CO) nel 13-15 March 2017 [10.1109/LATW.2017.7906767]. 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLOCANTORO, RICCARDORESTIFO, MARCOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOVENINI, FEDERICO + PUBLISHED_07906767.pdf
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico. - STAMPA. - 508:(2017), pp. 130-151. [10.1007/978-3-319-67104-8_7] 1-gen-2017 Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + -
Robustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns / Backhausen, Ulrich; Ballan, Oscar; Bernardi, Paolo; Luca, Sergio De; Henzler, Julie; Kern, Thomas; Piumatti, Davide; Rabenalt, Thomas; Ramamoorthy, Krishnapriya Chakiat; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Sansonetti, Alessandro; Ullmann, Rudolf; Venini, Federico; Wiesner, Robert. - (2017). ((Intervento presentato al convegno 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design. 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLOPIUMATTI, DAVIDESANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOVENINI, FEDERICO + -
An Evolutionary Algorithm Approach to Stress Program Generation During Burn-In / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Colazzo, Andrea; Motta, Alessandro; Pagani, Alberto; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Ernesto, Sanchez; Venini, Federico. - In: JOURNAL OF LOW POWER ELECTRONICS. - ISSN 1546-1998. - STAMPA. - (2018), pp. 86-98. [10.1166/jolpe.2018.1542] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoErnesto Sanchezand Federico Venini + JOLPE_FINAL.pdf
Adaptive Management Techniques for Optimized Burn-In of Safety-Critical SoC / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Bugeja, Conrad; Cantoro, Riccardo; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Venini, Federico. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 34:(2018), pp. 43-52. [10.1007/s10836-018-5705-1] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoFederico Venini + JETTA_FINAL.pdf
An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Bugeja, Conrad; Cantoro, Riccardo; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Ernesto, Sanchez; Venini, Federico. - In: IEEE DESIGN & TEST. - ISSN 2168-2356. - STAMPA. - (2018), pp. 46-53. [10.1109/MDAT.2018.2799807] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoErnesto SanchezFederico Venini + PREPRINT_DT_DTSI-2017-04-0096.R2.pdf08272388.pdf
Industrial best practice: cases of study by automotive chip- makers / Abbati, L. Degli; Ullmann, R.; Paganini, G.; Coppetta, M.; Zaia, L.; Huard, V.; Montfort, O.; Cantoro, R.; Insinga, G.; Venini, F.; Calao, P.; Bernardi, P.. - (2021), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) [10.1109/DFT52944.2021.9568350]. 1-gen-2021 Paganini, G.Cantoro, R.Insinga, G.Venini, F.Calao, P.Bernardi, P. + Industrial_best_practice_cases_of_study_by_automotive_chip-_makers.pdf
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