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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| In-situ defect detection of metal Additive Manufacturing: an integrated framework / Cannizzaro, Davide; Varrella, Antonio Giuseppe; Paradiso, Stefano; Sampieri, Roberta; Chen, Yukai; Macii, Alberto; Patti, Edoardo; Di Cataldo, Santa. - In: IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING. - ISSN 2168-6750. - 10:1(2022), pp. 74-86. [10.1109/TETC.2021.3108844] | 1-gen-2022 | Cannizzaro, DavideParadiso, StefanoChen, YukaiMacii, AlbertoPatti, EdoardoDi Cataldo, Santa + | TETC_Additive_platform.pdf; In-Situ_Defect_Detection_of_Metal_Additive_Manufacturing_An_Integrated_Framework.pdf |
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