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An I-IP for the Debug of Microprocessor Cores / D., Appello; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2005). (Intervento presentato al convegno DCIS05: XX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems tenutosi a Lisbona, Portogallo nel 23-25 Novembre 2005). 1-gen-2005 GROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A Tool for Supporting and Automating the Test of Complex System-on-Chips / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; D., Appello; R., Mattiuzzo; V., Tancorre. - (2005). (Intervento presentato al convegno ITSW 2005: IEEE International Test Synthesis Workshop tenutosi a San Antonio, Texas, USA nel 11-12 aprile 2005). 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A new DFM-proactive technique / D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2005). (Intervento presentato al convegno SDD'05: 2nd IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis tenutosi a Austin, Texas, USA nel 10 - 11 novembre 2005). 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Exploiting an Infrastructure-IP to reduce memory diagnosis costs in SoCs / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2005), pp. 202-207. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Tallinn, Estonia nel 22-25 Maggio 2005) [10.1109/ETS.2005.23]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Integrating BIST techniques for on-line SoC testing / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Manzone, A; Rebaudengo, Maurizio; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2005), pp. 235-240. (Intervento presentato al convegno IEEE International On-Line Test Symposium IOLTS tenutosi a Saint Raphael, France nel 6-8 Luglio, 2005) [10.1109/IOLTS.2005.38]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
Exploiting an I-IP for both test and silicon debug of microprocessor cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2005), pp. 55-62. (Intervento presentato al convegno International Workshop on Microprocessor Test and Verification MTV tenutosi a Austin, TX, USA nel 3-4 Novembre 2005) [10.1109/MTV.2005.11]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
On the diagnosis of SoCs including multiple memory cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2005), pp. 75-80. (Intervento presentato al convegno IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, Hungary nel 13-16 Aprile, 2005) [10.1109/DDECS.2006.1649622]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
On the automation of the test flow of complex SoCs / D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2006), pp. 386-391. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium VTS tenutosi a Berkeley, CA, USA nel 30 Aprile - 4 Maggio 2006) [10.1109/VTS.2006.51]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Embedded Memory Diagnosis: An Industrial Workflow / Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Tancorre, V.. - (2006), pp. 1-9. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference ITC tenutosi a Santa Clara, CA, USA nel 24-26 Ottobre 2006) [10.1109/TEST.2006.297672]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
System-in-package testing: problems and solutions / Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SONZA REORDA, Matteo. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - Volume: 23 , Issue: 3:(2006), pp. 203-211. [10.1109/MDT.2006.79] 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo + -
A pattern ordering algorithm for reducing the size of fault dictionaries / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2006), pp. 166-171. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium VTS tenutosi a Berkeley, CA, USA nel 30 Aprile - 4 Maggio 2006) [10.1109/VTS.2006.9]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo. - (2006), pp. 230-231. (Intervento presentato al convegno IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS tenutosi a Prague, Czech Republic nel 18-21 Aprile 2006). 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELO -
Hardware-Accelerated Path-Delay Fault Grading of Functional Test Programs for Processor-based Systems / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 411-416. (Intervento presentato al convegno ACM Great Lakes Symposium on VLSI GLSVLSI tenutosi a Stresa-Lago Maggiore, Italy nel 11-13 Marzo 2007) [10.1145/1228784.1228881]. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo -
On the Automatic Generation of Test Programs for Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 179-184. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Freiburg, Germany nel 20-24 May 2007) [10.1109/ETS.2007.28]. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
An Effective Approach for the Diagnosis of Transition-Delay Faults in SoCs, based on SBST and Scan Chains / LAGOS BENITES, J; Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 291-299. (Intervento presentato al convegno DFT2007, 22th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems). 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELORAVOTTO, DANILOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
Safety Evaluation of NanoFabrics / Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 418-426. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems tenutosi a Roma, Italy nel 26-28 September, 2007). 1-gen-2007 GROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A System-layer Infrastructure for SoC Diagnosis / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 23:(2007), pp. 389-404. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
An Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization / Appello, D; Bernardi, Paolo; Bruno, M; Cagliesi, R; Giancarlini, M; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008). (Intervento presentato al convegno 2nd IEEE International Workshop on Automated Test Equipment: Vision ATE 2020). 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A novel SBST generation technique for path-delay faults in microprocessors based on BDD analysis and evolutionary algorithm / Christou, K; Michael, M. K.; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008), pp. 389-394. (Intervento presentato al convegno 26th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a San Diego, CA, USA nel apr 27 - may 1) [10.1109/VTS.2008.37]. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
An Innovative and Low-Cost Industrial Flow for Reliability Characterization of SoCs / Appello, D; Bernardi, Paolo; Cagliesi, R; Giancarlini, M; Grosso, Michelangelo. - (2008), pp. 140-145. (Intervento presentato al convegno 13th IEEE European Test Symposium, 2008 tenutosi a Verbania, Italia nel may 25 - 29, 2008) [10.1109/ETS.2008.27]. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELO + -
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