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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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An intra-cell defect grading tool / Bosio, A.; Dilillo, L.; Girard, P.; Todri-Sanial, A.; Virazel, A.; Bernabovi, S.; Bernardi, P.. - (2014), pp. 298-301. (Intervento presentato al convegno 17th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2014 tenutosi a pol nel 2014) [10.1109/DDECS.2014.6868814]. | 1-gen-2014 | Bernabovi S.Bernardi P. + | 06868814.pdf |
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