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Residual stresses in additively manufactured AlSi10Mg: Raman spectroscopy and X-ray diffraction analysis / Marola, Silvia; Bosia, Silvia; Veltro, Alessandro; Fiore, Gianluca; Manfredi, Diego; Lombardi, Mariangela; Amato, Giampiero; Baricco, Marcello; Battezzati, Livio. - In: MATERIALS & DESIGN. - ISSN 0264-1275. - ELETTRONICO. - 202:(2021). [10.1016/j.matdes.2021.109550] 1-gen-2021 Bosia, SilviaManfredi, DiegoLombardi, Mariangela + 1-s2.0-S0264127521001039-main.pdf
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