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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| New Perspectives on Core In-field Path Delay Test / Cantoro, Riccardo; Foti, Dario; Sartoni, Sandro; Sonza Reorda, Matteo; Anghel, Lorena; Portolan, Michele. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington DC (USA) nel 01-06 November 2020) [10.1109/ITC44778.2020.9325260]. | 1-gen-2020 | Cantoro, RiccardoFoti, DarioSartoni, SandroSonza Reorda, MatteoPortolan, Michele + | New_Perspectives_on_Core_In-field_Path_Delay_Test.pdf; ITC20___New_Perspectives_on_Core_In_field_Path_Delay_Test.pdf |
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