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CVD diamond microdosimeters
2001 C., Manfredotti; A., LO GIUDICE; Ricciardi, Carlo; C., Paolini; E., Massa; F., Fizzotti; E., Vittone
Micro-IBICC and micro-IL analyses of CVD diamond microdosimeters
2001 E., Vittone; Ricciardi, Carlo; A., LO GIUDICE; F., Fizzotti; C., Manfredotti; G., Egeni; V., Budello
Micro-Raman characterization of mc-Si:H films deposited by PECVD, mc-SiC:H deposited by ECR-CVD and 6H-SiC wafers
2002 Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Cicero, Giancarlo; Ricciardi, Carlo
Luminescence properties of amorphous silicon-nitride-based optical microcavities
2002 Giorgis, Fabrizio; Ballarini, V; Ferrero, Sergio; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Pirri, Candido
Defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications
2002 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.; Ferrero, Sergio
Characterization of polycrystalline SiC layers grown by ECR-PECVD for micro-electro-mechanical system
2003 Ricciardi, Carlo; Bennici, E.; Cocuzza, Matteo; Mandracci, Pietro; Bich, D.; Guglielmetti, V.; Barucca, G.
Recent progresses in the growth, processing and characterization of silicon carbide
2003 Mandracci, Pietro; Fanchini, G; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano
Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes
2003 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Mandracci, Pietro; Cocuzza, Matteo; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Castaldini, A.
Physical properties of ECR-CVD polycrystalline SiC films for Micro-Electro-Mechanical-Systems
2003 Ricciardi, Carlo; Fanchini, G.; Mandracci, Pietro
Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta
Characterization of polycrystalline SiC layers grown by ECR-PECVD for micro-electro-mechanical systems
2003 Ricciardi, C.; Bennici, E.; Cocuzza, M.; Mandracci, P.; Bich, D.; Guglielmetti, V.; Barucca, G.
Low temperature growth of SiO2 on SiC by plasma enhanced chemical vapor deposition for power device applications
2003 Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Richieri, G; Sgorlon, C.
New insights on amorphous silicon-nitride microcavities
2003 V., Ballarini; G., Barucca; E., Bennici; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Tresso, Elena Maria; Giorgis, Fabrizio
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Fanchini, Giovanni; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin
Physical properties of ECR-CVD polycrystalline SiC films for Micro-Electro-Mechanical systems
2003 Ricciardi, Carlo; G., Fanchini; Mandracci, Pietro
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.
Nanolithography for two-dimensional Photonic Crystals
2004 Celasco, Edvige; Bennici, E; Ricciardi, Carlo; Giorgis, F; Pirri, Candido
Silicon-based microcavities: theory and experiment
2004 Ballarini, Valeria; Ricciardi, Carlo; Giorgis, Fabrizio; Iotti, Rita Claudia; Rossi, Fausto
Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction
2004 Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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CVD diamond microdosimeters / C., Manfredotti; A., LO GIUDICE; Ricciardi, Carlo; C., Paolini; E., Massa; F., Fizzotti; E., Vittone. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 458:(2001), pp. 360-364. | 1-gen-2001 | RICCIARDI, Carlo + | - |
Micro-IBICC and micro-IL analyses of CVD diamond microdosimeters / E., Vittone; Ricciardi, Carlo; A., LO GIUDICE; F., Fizzotti; C., Manfredotti; G., Egeni; V., Budello. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - 181:(2001), pp. 349-353. | 1-gen-2001 | RICCIARDI, Carlo + | - |
Micro-Raman characterization of mc-Si:H films deposited by PECVD, mc-SiC:H deposited by ECR-CVD and 6H-SiC wafers / Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Cicero, Giancarlo; Ricciardi, Carlo - In: State of the Art and Future Development in Raman Spectroscopy and Related Techniques / G. MESSINA, S. SANTANGELO. - AMSTERDAM : IOS Press, 2002. - ISBN 9781586032623. - pp. 113-130 | 1-gen-2002 | FERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroCICERO, GiancarloRICCIARDI, Carlo | - |
Luminescence properties of amorphous silicon-nitride-based optical microcavities / Giorgis, Fabrizio; Ballarini, V; Ferrero, Sergio; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Pirri, Candido. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - 299-302:(2002), pp. 653-657. | 1-gen-2002 | GIORGIS, FABRIZIOFERRERO, SERGIOMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloPIRRI, Candido + | - |
Defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.; Ferrero, Sergio. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 14:48(2002), pp. 13397-13402. [10.1088/0953-8984/14/48/394] | 1-gen-2002 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + | - |
Characterization of polycrystalline SiC layers grown by ECR-PECVD for micro-electro-mechanical system / Ricciardi, Carlo; Bennici, E.; Cocuzza, Matteo; Mandracci, Pietro; Bich, D.; Guglielmetti, V.; Barucca, G.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 427:(2003), pp. 187-190. | 1-gen-2003 | RICCIARDI, CarloCOCUZZA, MATTEOMANDRACCI, Pietro + | - |
Recent progresses in the growth, processing and characterization of silicon carbide / Mandracci, Pietro; Fanchini, G; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano - In: Recent Research Development in Applied Physics / .. - KERALA : Transworld Research Network, 2003. - ISBN 9788178950853. - pp. 427-450 | 1-gen-2003 | MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIORICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + | - |
Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Mandracci, Pietro; Cocuzza, Matteo; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Castaldini, A.. - 433-436:(2003), pp. 455-458. | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOMANDRACCI, PietroCOCUZZA, MATTEOPIRRI, CandidoRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + | - |
Physical properties of ECR-CVD polycrystalline SiC films for Micro-Electro-Mechanical-Systems / Ricciardi, Carlo; Fanchini, G.; Mandracci, Pietro. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1236-1240. | 1-gen-2003 | RICCIARDI, CarloMANDRACCI, Pietro + | - |
Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOTRESSO, Elena MariaPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + | - |
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2] | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + | - |
Characterization of polycrystalline SiC layers grown by ECR-PECVD for micro-electro-mechanical systems / Ricciardi, C.; Bennici, E.; Cocuzza, M.; Mandracci, P.; Bich, D.; Guglielmetti, V.; Barucca, G.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - STAMPA. - 427:1-2(2003), pp. 187-190. [10.1016/S0040-6090(02)01222-1] | 1-gen-2003 | Ricciardi C.Bennici E.Cocuzza M.Mandracci P. + | Characterization of polycrystalline SiC layers grown by ECR-PECVD for micro-electro-mechanical systems.pdf |
Low temperature growth of SiO2 on SiC by plasma enhanced chemical vapor deposition for power device applications / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Richieri, G; Sgorlon, C.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 427:(2003), pp. 279-283. | 1-gen-2003 | MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIORICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + | - |
New insights on amorphous silicon-nitride microcavities / V., Ballarini; G., Barucca; E., Bennici; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Tresso, Elena Maria; Giorgis, Fabrizio. - In: PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES. - ISSN 1386-9477. - 16:(2003), pp. 591-595. | 1-gen-2003 | PIRRI, CandidoRICCIARDI, CarloTRESSO, Elena MariaGIORGIS, FABRIZIO + | - |
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, Giovanni; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. [10.1016/S0925-9635(02)00310-2] | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOFANCHINI, GiovanniPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + | - |
Physical properties of ECR-CVD polycrystalline SiC films for Micro-Electro-Mechanical systems / Ricciardi, Carlo; G., Fanchini; Mandracci, Pietro. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1236-1240. | 1-gen-2003 | RICCIARDI, CarloMANDRACCI, Pietro + | - |
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, Carlo + | - |
Nanolithography for two-dimensional Photonic Crystals / Celasco, Edvige; Bennici, E; Ricciardi, Carlo; Giorgis, F; Pirri, Candido. - (2004). (Intervento presentato al convegno Nanophotonics Summer School tenutosi a Cargese (Corsica) nel 19-30 April 2004). | 1-gen-2004 | CELASCO, EDVIGERICCIARDI, CarloPIRRI, Candido + | - |
Silicon-based microcavities: theory and experiment / Ballarini, Valeria; Ricciardi, Carlo; Giorgis, Fabrizio; Iotti, Rita Claudia; Rossi, Fausto. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - STAMPA. - 19:4(2004), pp. S489-S491. [10.1088/0268-1242/19/4/161] | 1-gen-2004 | BALLARINI, VALERIARICCIARDI, CarloGIORGIS, FABRIZIOIOTTI, Rita ClaudiaROSSI, FAUSTO | - |
Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114-115:(2004), pp. 236-240. | 1-gen-2004 | PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + | - |
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