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A programmable BIST architecture for clusters of Multiple-Port SRAMs / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.. - STAMPA. - (2000), pp. 557-566. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Atlantic City (NJ), USA nel 3-5 Oct. 2000 [10.1109/TEST.2000.894249]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ITC-RAM BIST-AuthorVersion.pdf2000-ITC-RAM BIST.pdf
An effective distributed BIST architecture for RAMs / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; LOBETTI BODONI, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 119-124. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop (ETW) tenutosi a Cascais, PT nel 23-26 May 2000 [10.1109/ETW.2000.873788]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ETW-DistributedMemory.pdf2000-ETW-DistributedMemory-AuthorVersion.PDF
SEU effect analysis in a open-source router via a distributed fault injection environment / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2001), pp. 219-223. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 13-16 Mar. 2001 [10.1109/DATE.2001.915028]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2001-DATE-Router-AuthorVersion.pdf2001-DATE-Router.pdf
Online and Offline BIST in IP-Core Design / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 18(5):(2001), pp. 92-99. [10.1109/54.953276] 1-gen-2001 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GIORGIOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2001-IEEED&T-BIST-IPCore.pdf
Validation of a software dependability tool via fault injection experiments / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Tagliaferri, Luca; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2001), pp. 3-8. ((Intervento presentato al convegno IEEE 7th International On-Line Testing Workshop (IOLTW) tenutosi a Taormina, IT nel 9-11 July 2001 [10.1109/OLT.2001.937809]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioTAGLIAFERRI, LucaPRINETTO, Paolo Ernesto 2001-IOLTS-SIHFT-AuthorVersion.pdf2001-IOLTS-SIHFT.pdf
Control-flow checking via regular expressions / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2001), pp. 299-303. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Kyoto, JP nel 19-21 Nov. 2001 [10.1109/ATS.2001.990300]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2001-ATS-ControlFlow-AuthorVersion.pdf2001-ATS-ControlFlow.pdf
Software dependability techniques validated via fault injection experiments / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2001), pp. 269-274. ((Intervento presentato al convegno IEEE 6th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) tenutosi a Grenoble, FR nel 10-14 Sept. 2001 [10.1109/RADECS.2001.1159292]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2001-RADECS-SIHFT-AuthorVersion.pdf2001-RADECS-SIHFT.pdf
An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. - ISSN 0018-9529. - STAMPA. - 51:(2002), pp. 123-128. [10.1109/24.994929] 1-gen-2002 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-IEEEReliability-OnlineBISTR-Ram.pdf
An optimal algorithm for the automatic generation of March tests / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 938-943. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Paris, FR nel 4-8 Mar. 2002 [10.1109/DATE.2002.998412]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-DATE-MarchTestGen-AuthorVersion.pdf2002-DATE-MarchTestGen.pdf
Static analysis of SEU effects on software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 500-508. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Baltimore (MD), USA nel 7-10 Oct. 2002 [10.1109/TEST.2002.1041800]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-ITC-SEU-AuthorVersion.pdf2002-ITC-SEU.pdf
Specification and design of a new memory fault simulator / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 92-97. ((Intervento presentato al convegno IEEE 11th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Guam, USA nel 18-20 Nov. 2002 [10.1109/ATS.2002.1181693]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-ATS-RASTA-1.pdf2002-ATS-RASTA-AuthorVersion.pdf
FAUST: fault-injection script-based tool / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2003), pp. 160-160. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003 [10.1109/OLT.2003.1214386]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoSOLCIA, IVANOTAGLIAFERRI, Luca 2003-IOLTS-Faust.pdf2003-IOLTS-Faust-AuthorVersion.pdf
Online self-repair of FIR filters / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 20:3(2003), pp. 50-57. [10.1109/MDT.2003.1198686] 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-MTD-FIR.pdf
Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE. - ISSN 0163-6804. - STAMPA. - 41:9(2003), pp. 90-97. [10.1109/MCOM.2003.1232242] 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2003-MCOM-RAMDist-AuthorVersion.pdf2003-MCOM-RAMDist.pdf
A watchdog processor to detect data and control flow errors / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2003), pp. 144-148. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003 [10.1109/OLT.2003.1214381]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-IOLTS-Watchdog-AuthorVersion.pdf2003-IOLTS-Watchdog.pdf
Data criticality estimation in software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - 1:(2003), pp. 802-810. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Charlotte (NC), USA nel 30 Sept. - 2 Oct., 2003 [10.1109/TEST.2003.1270912]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2003-ITC-DataCriticality-AuthorVersion.pdf2003-ITC-DataCriticality.pdf
PROMON: a profile monitor of software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca; Tibaldi, Clara. - STAMPA. - (2005), pp. 81-86. ((Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, LucaTIBALDI, CLARA 2005-DDECS-Promon.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005 [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. ((Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-DDECS-AFSM.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005 [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
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