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Defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.; Ferrero, Sergio. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 14:48(2002), pp. 13397-13402. [10.1088/0953-8984/14/48/394] 1-gen-2002 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, F; Pirri, Candido; Perrone, D; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - (2003). (Intervento presentato al convegno International Conference on Silicon Carbide and Related Materials ICSCRM tenutosi a Lyon nel 5-10 October 2003). 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOCELASCO, EDVIGEPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, Pietro + -
Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Mandracci, Pietro; Cocuzza, Matteo; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Castaldini, A.. - 433-436:(2003), pp. 455-458. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOMANDRACCI, PietroCOCUZZA, MATTEOPIRRI, CandidoRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOTRESSO, Elena MariaPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2] 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + -
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, Giovanni; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. [10.1016/S0925-9635(02)00310-2] 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOFANCHINI, GiovanniPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + -
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, Carlo + -
Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114-115:(2004), pp. 236-240. 1-gen-2004 PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + -
Structural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / P., Colombi; E., Bontempi; U. M., Meotto; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; G., Richieri; L., Merlin; L. E., Depero. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114:(2004), pp. 236-240. [10.1016/j.mseb.2004.07.071] 1-gen-2004 PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + -
Plasma-assisted SiC oxidation for power device fabrication / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; G., Richieri; Scaltrito, Luciano. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 238:(2004), pp. 336-340. 1-gen-2004 MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + -
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - 457-460:2(2004), pp. 1081-1084. 1-gen-2004 SCALTRITO, LUCIANOCELASCO, EDVIGEPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoPERRONE, DENISMANDRACCI, Pietro + -
Design, Fabrication and Characterization of 1.5 mΩcm2, 800 V 4H-SiC n-Type Schottky Barrier Diodes / Furno, Mauro Stefano; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Mandracci, Pietro; Scaltrito, Luciano; Perrone, Denis; Richieri, G.; Merlin, Luigi. - ELETTRONICO. - 483-485:(2005), pp. 941-944. (Intervento presentato al convegno 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, ECRSCRM2004 tenutosi a Bologna, Italy nel 31 August - 4 September 2004) [10.4028/www.scientific.net/MSF.483-485.941]. 1-gen-2005 FURNO, Mauro StefanoBONANI, FABRIZIOGHIONE, GIOVANNIFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEMANDRACCI, PietroSCALTRITO, LUCIANOPERRONE, DENIS + Design, Fabrication, and Characterization of.pdf
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syvjrvi; R. R., Ciechonski; S., DE ANGELIS; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. 1-gen-2005 PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syväjärvi; R. R., Ciechonski; S., De Angelis; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468] 1-gen-2005 PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Phase Formation at Rapid Thermal Annealing of Nickel Contacts on C – Face n – Type 4H – SiC / Ferrero, Sergio; A., Albonico; U. M., Meotto; G., Rombol; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Perrone, D.; Scaltrito, Luciano; E., Bontempi; L. E., Depero; G., Richieri; L., Merlin. - 483-485:(2005), p. 733. 1-gen-2005 FERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Electrical analysis and interface states evaluation of Ni Schottky diodes on 4H-SiC thick epilayers / Porro, Samuele; Rafal R., Ciechonski; Mikael, Syväjärvi; Rositza, Yakimova. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - 202:(2005), pp. 2508-2514. [10.1002/pssa.200521147] 1-gen-2005 PORRO, SAMUELE + -
Low temperature electron spin resonance investigation of ultrananocrystalline diamond films as a function of nitrogen content / Rovere, Massimo; Porro, Samuele; Musso, Simone; Shames, A.; Williams, O.; Bruno, P.; Tagliaferro, Alberto; Gruen, D. M.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 15 (SI 11-12):(2006), pp. 1913-1916. (Intervento presentato al convegno Joint 11th International Conference on New Diamond Science and Technology and the 9th Applied Diamond Conference 2006 tenutosi a Research Triangle Park (USA) nel 15-19 May 2006) [10.1016/j.diamond.2006.07.013]. 1-gen-2006 ROVERE, MASSIMOPORRO, SAMUELEMUSSO, SIMONETAGLIAFERRO, Alberto + -
Thermal CVD Growth of Carbon Nanotubes Thick Layers / Porro, Samuele; Musso, Simone; Giorcelli, Mauro; Tagliaferro, Alberto. - 48:(2006), pp. 37-43. (Intervento presentato al convegno 11th Conference on Modern Materials and Technologies, CIMTEC 2006 tenutosi a Acireale (Sicily, Italy) nel June 4–9, 2006). 1-gen-2006 PORRO, SAMUELEMUSSO, SIMONEGIORCELLI, MAUROTAGLIAFERRO, Alberto -
Low temperature electron spin resonance investigation on SWNTs after hydrogen treatment / Musso, Simone; Porro, Samuele; Rovere, Massimo; Tagliaferro, Alberto; E., Laurenti; M., Mann; K. B. K., Teo; W. I., Milne. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 15 (4-8):(2006), pp. 1085-1089. (Intervento presentato al convegno Diamond 2005, 16th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes, Nitrides & Silicon Carbide tenutosi a Toulouse (FRA) nel Sep. 11-16, 2005) [10.1016/j.diamond.2005.11.018]. 1-gen-2006 MUSSO, SIMONEPORRO, SAMUELEROVERE, MASSIMOTAGLIAFERRO, Alberto + -
Thermal-CVD system designed for growth of carbon nanotubes / Porro, Samuele; Musso, Simone; Rovere, Massimo; Giorcelli, Mauro; Chiodoni, Angelica; Tagliaferro, Alberto. - 2:(2006), pp. 1025-1034. (Intervento presentato al convegno ASME 8th Biennial Conference on Engineering Systems Design and Analysis (ESDA2006) tenutosi a Torino nel July 4-7, 2006) [10.1115/ESDA2006-95721]. 1-gen-2006 PORRO, SAMUELEMUSSO, SIMONEROVERE, MASSIMOGIORCELLI, MAUROCHIODONI, ANGELICATAGLIAFERRO, Alberto -
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