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Exploiting Symbolic Techniques within Genetic Algorithms for Power Optimization / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 133-140. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Tools with Artificial Intelligence nel 3-8 Nov 1997). 1-gen-1997 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Guaranteeing Testability in Re-encoding for Low Power / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 30-35. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium nel 17-18 November 1997). 1-gen-1997 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Cellular automata for deterministic sequential test pattern generation / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 60-67. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium nel April 27-May 1, 1997). 1-gen-1997 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
Hybrid Symbolic-Explicit Techniques for the Graph Coloring Problem / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1997), pp. 422-426. (Intervento presentato al convegno IEEE European Design and Test Conference tenutosi a Paris nel March 1997). 1-gen-1997 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
A Test Pattern Generation Algorithm Exploiting Behavioral Information / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - (1998), pp. 480-485. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium nel 2-4 December 1998). 1-gen-1998 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto -
A System for Evaluating On-Line Testability at the RT-level / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Vietti, R.. - (1998), pp. 284-291. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 2-4 November 1998). 1-gen-1998 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioSONZA REORDA, Matteo + -
HD-BIST: a hierarchical framework for BIST scheduling and diagnosis in SOCs / Benso, Alfredo; Cataldo, S.; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.. - STAMPA. - (1999), pp. 1038-1044. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Atlantic City, NJ nel 27-30 September 1999). 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Testing Embedded Memories in Telecommunication Systems / Barbagallo, S.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE. - ISSN 0163-6804. - STAMPA. - 37 , Issue: 6:(1999), pp. 84-89. [10.1109/35.769279] 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + 1999-IEEEComm-Test-Memory.pdf
Testing an MCM for high-energy physics experiments: a case study / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Giovannetti, S.; Mariani, R.; Motto, S.. - STAMPA. - (1999), pp. 38-46. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Atlantic City, NJ nel 27-30 September 1999). 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Integrating Symbolic Techniques in ATPG-Based Sequential Logic Optimization / SAN MILLAN, E.; Entrena, L.; Espejo, J. A.; Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio. - (1999), pp. 516-520. (Intervento presentato al convegno IEEE Design, Automation and Test in Europe nel 9-12 March 1999). 1-gen-1999 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, Fulvio + -
RT-level TPG Exploiting High-Level Synthesis Information / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - (1999), pp. 341-353. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium nel 25-30 April 1999). 1-gen-1999 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto -
Exploiting Behavioral Information in Gate-Level ATPG / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 14(1-2):(1999), pp. 141-148. [10.1023/A:1008322011010] 1-gen-1999 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto -
Optimal Hardware Pattern Generation for Functional BIST / Cataldo, S.; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Wunderlich, H. J.. - (2000), pp. 292-297. (Intervento presentato al convegno IEEE Design, Automation and Test in Europe nel 27-30 March 2000). 1-gen-2000 CHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
A family of Self-Repair SRAM cores / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, G; LOBETTI BODONI, M; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 214-218. (Intervento presentato al convegno IOLTW 2000: IEEE International On-Line Test Workshop nel July 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
An effective distributed BIST architecture for RAMs / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; LOBETTI BODONI, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 119-124. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop (ETW) tenutosi a Cascais, PT nel 23-26 May 2000) [10.1109/ETW.2000.873788]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ETW-DistributedMemory-AuthorVersion.PDF
A software development kit for dependable applications in embedded systems / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 170-178. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference nel 3-5 October 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto -
A COTS Wrapping Toolkit for Fault Tolerant Applications under Windows NT / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 9-16. (Intervento presentato al convegno IEEE International On-Line Testing Workshop nel 3-5 July 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto -
'BOND': An Interposition Agents Based Fault Injector for Windows NT / Baldini, A.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 387-395. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 25-27 October 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
A C/C++ Source-to-Source Compiler for Dependable Applications / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, L.. - (2000), pp. 71-78. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks nel 25-28 June 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
HD2BIST: a hierarchical framework for BIST scheduling, data patterns delivering and diagnosis in SoCs / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Ricciato, F.; Spadari, M.; Zorian, Y.. - STAMPA. - (2000), pp. 892-901. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Atlantic City (NJ), USA nel 3-5 Oct. 2000) [10.1109/TEST.2000.894300]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ITC-HD2BIST-AuthorVersion.pdf
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