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Soft x-ray submicron imaging detector based on point defects in LiF / Baldacchini, G.; Bollanti, S.; Bonfigli, F.; Flora, F.; Di Lazzaro, P.; Lai, A.; Marolo, T.; Montereali, R. M.; Murra, D.; Faenov, A.; Pikuz, T.; Nichelatti, E.; Tomassetti, G.; Reale, A.; Reale, L.; Ritucci, A.; Limongi, T.; Palladino, L.; Francucci, M.; Martellucci, S.; Petrocelli, G.. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 76:11(2005), pp. 1-12. [10.1063/1.2130930] 1-gen-2005 Lai A.Limongi T. + Baldacchini_RSI_2005.pdf
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