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A new approach for Total Ionizing Dose effect analysis on Flash-based FPGA / Zhang, Qiutao; Azimi, Sarah; LA VACCARA, Germano; Sterpone, Luca; Du, Boyang. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 76-77:(2017), pp. 58-63. [10.1016/j.microrel.2017.07.066] 1-gen-2017 AZIMI, SARAHLA VACCARA, GERMANOSTERPONE, LUCADU, BOYANG + 1-s2.0-S0026271417303505-main.pdf
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