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AFM Measurements and Tip Characterization of Nanoparticles with Different Shapes / Bellotti, Roberto; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - In: NANOMANUFACTURING AND METROLOGY. - ISSN 2520-8128. - ELETTRONICO. - (2022). [10.1007/s41871-022-00125-x] 1-gen-2022 Luigi Ribotta + Bellotti2022.pdf
Instrumented Indentation Test in the Nano‑range: Performances Comparison of Testing Machines Calibration Methods / Galetto, Maurizio; Maculotti, Giacomo; Genta, Gianfranco; Barbato, Giulio; Levi, Raffaello. - In: NANOMANUFACTURING AND METROLOGY. - ISSN 2520-8128. - STAMPA. - 2:2(2019), pp. 91-99. [10.1007/s41871-019-00035-5] 1-gen-2019 Maurizio GalettoGiacomo MaculottiGianfranco GentaGiulio BarbatoRaffaello Levi Galetto2019_Article_InstrumentedIndentationTestInT.pdf
Instrumented Indentation Test: Contact Stiffness Evaluation in the Nano‑range / Maculotti, Giacomo; Genta, Gianfranco; Lorusso, Massimo; Pavese, Matteo; Ugues, Daniele; Galetto, Maurizio. - In: NANOMANUFACTURING AND METROLOGY. - ISSN 2520-8128. - STAMPA. - 2:1(2019), pp. 16-25. [10.1007/s41871-018-0030-y] 1-gen-2019 Giacomo MaculottiGianfranco GentaMassimo LorussoMatteo PaveseDaniele UguesMaurizio Galetto Maculotti2019_Article_InstrumentedIndentationTestCon.pdf
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