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Security Primitives (PUF and TRNG) with STT-MRAM / Vatajelu, ELENA IOANA; Di Natale, G.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS). - ELETTRONICO. - 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS):(2016), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS)) [10.1109/VTS.2016.7477292]. 1-gen-2016 VATAJELU, ELENA IOANAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
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