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Co-optimization of Microgrid's bids in Day-ahead Energy and Reserve Markets Considering Stochastic Decisions in a Real-time Market / Bahramara, S.; Sheikhahmadi, P.; Chicco, G.; Mazza, A.; Wang, F.; Catalao, J. P. S.. - ELETTRONICO. - 2021-:(2021), pp. 1-8. (Intervento presentato al convegno 2021 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, IAS 2021 tenutosi a Vancouver, Canada nel 2021) [10.1109/IAS48185.2021.9677051]. 1-gen-2021 Chicco G.Mazza A. + Paper_2021-PSEC-0878_R1_ga.pdfCo-optimization_of_Microgrids_bids_in_Day-ahead_Energy_and_Reserve_Markets_Considering_Stochastic_Decisions_in_a_Real-time_Market.pdf
New high-voltage power MOSFET for power conversion applications / Galluzzo, A.; Melito, M.; Musumeci, S.; Saggio, M.; Raciti, A.. - ELETTRONICO. - 5:(2000), pp. 2966-2973. (Intervento presentato al convegno 2000 IEEE Industry Applications Conference. Thirty-Fifth IAS Annual Meeting and World Conference on Industrial Applications of Electrical Energy tenutosi a Rome, Italy nel 08-12 October 2000) [10.1109/IAS.2000.882588]. 1-gen-2000 S. Musumeci + A_new_high_voltage_power_MOSFET_for_power_conversion_applications.pdf
P.M. assisted synchronous reluctance drive for minimal hybrid application / Vagati, Alfredo; Pellegrino, GIAN - MARIO LUIGI; Giraudo, G.; Guglielmi, Paolo. - STAMPA. - 1:(2004), pp. 299-306. (Intervento presentato al convegno 2004 IEEE Industry Applications Conference; 39th IAS Annual Meeting tenutosi a Seattle (USA) nel 3-7 October 2004) [10.1109/IAS.2004.1348424]. 1-gen-2004 VAGATI, AlfredoPELLEGRINO, GIAN - MARIO LUIGIGUGLIELMI, Paolo + -
Robustness Evaluation of MOSFETs by Equivalent Cell Behavioral Model of the Gate Parasitic Resistance / Chimento, F.; Musumeci, S.; Raciti, A.; Sannino, S.; Magri, A.; Melito, M.; Zara, F.. - ELETTRONICO. - (2007), pp. 350-357. (Intervento presentato al convegno IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS) tenutosi a New Orleans, LA, USA nel 23-27 September 2007) [10.1109/07IAS.2007.48]. 1-gen-2007 S. Musumeci + Robustness_Evaluation_of_MOSFETs_by_Equivalent_Cell_Behavioral_Model_of_the_Gate_Parasitic_Resistance.pdf
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